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Trabalho de evento-resumo
Structural aspects of ion-induced charge collection and single-event cross-section on electronic devices (2019)
Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de; Medina, Nilberto Heder ; Added, Nemitala; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento; Scarduelli, Valdir Brunetti; Allegro, Paula Rangel Pestana; Escudeiro, Rafael; Santos, Hellen Cristine dos ; Silva, Tiago Fiorini da ; Rodrigues, Cleber Lima ; Leite, Alisson Rodolfo; Santos, Osvaldo Camargo Botelho dos
Source: Abstracts. Conference titles: Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil. Unidade: IF
Assunto: RADIAÇÃO IONIZANTE
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ABNT
AGUIAR, Vitor Ângelo Paulino de et al. Structural aspects of ion-induced charge collection and single-event cross-section on electronic devices. 2019, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2019. . Acesso em: 14 maio 2024.
APA
Aguiar, V. Â. P. de, Medina, N. H., Added, N., Macchione, E. L. A., Alberton, S. G. P. N., Scarduelli, V. B., et al. (2019). Structural aspects of ion-induced charge collection and single-event cross-section on electronic devices. In Abstracts. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.
NLM
Aguiar VÂP de, Medina NH, Added N, Macchione ELA, Alberton SGPN, Scarduelli VB, Allegro PRP, Escudeiro R, Santos HC dos, Silva TF da, Rodrigues CL, Leite AR, Santos OCB dos. Structural aspects of ion-induced charge collection and single-event cross-section on electronic devices. Abstracts. 2019 ;[citado 2024 maio 14 ]
Vancouver
Aguiar VÂP de, Medina NH, Added N, Macchione ELA, Alberton SGPN, Scarduelli VB, Allegro PRP, Escudeiro R, Santos HC dos, Silva TF da, Rodrigues CL, Leite AR, Santos OCB dos. Structural aspects of ion-induced charge collection and single-event cross-section on electronic devices. Abstracts. 2019 ;[citado 2024 maio 14 ]
Trabalho de evento-resumo
Critical dependencies of heavy ion-induced destructive failures in electronic devices (2019)
Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento ; Medina, Nilberto Heder ; Added, Nemitala; Aguiar, v a p; Menegasso, Ricardo; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Escudeiro, Rafael; Guazzelli, M A; Flechas, D
Source: Abstracts. Conference titles: Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil. Unidade: IF
Assunto: ÍONS PESADOS
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ABNT
ALBERTON, Saulo Gabriel Pereira Nascimento et al. Critical dependencies of heavy ion-induced destructive failures in electronic devices. 2019, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2019. . Acesso em: 14 maio 2024.
APA
Alberton, S. G. P. N., Medina, N. H., Added, N., Aguiar, v a p, Menegasso, R., Macchione, E. L. A., et al. (2019). Critical dependencies of heavy ion-induced destructive failures in electronic devices. In Abstracts. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.
NLM
Alberton SGPN, Medina NH, Added N, Aguiar v a p, Menegasso R, Macchione ELA, Escudeiro R, Guazzelli MA, Flechas D. Critical dependencies of heavy ion-induced destructive failures in electronic devices. Abstracts. 2019 ;[citado 2024 maio 14 ]
Vancouver
Alberton SGPN, Medina NH, Added N, Aguiar v a p, Menegasso R, Macchione ELA, Escudeiro R, Guazzelli MA, Flechas D. Critical dependencies of heavy ion-induced destructive failures in electronic devices. Abstracts. 2019 ;[citado 2024 maio 14 ]
Artigo de periodico
Reaction mechanisms of the 16O + 65Cu system (2019)
Crema, Edilson; Zagatto, Vinicius Antonio Bocaline; Shorto, Julian Marco Barbosa; Paes, B; Lubian, J; Simões, Rone Flávio; Monteiro, D S; Huiza, J F P; Added, Nemitala; Morais, Maria Carmen; Gomes, P R S
Source: Physical Review C. Unidade: IF
Assunto: REAÇÕES NUCLEARES
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ABNT
CREMA, Edilson et al. Reaction mechanisms of the 16O + 65Cu system. Physical Review C, n. 5, p. 054623/1- 054623/10, 2019Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1103/PhysRevC.99.054623. Acesso em: 14 maio 2024.
APA
Crema, E., Zagatto, V. A. B., Shorto, J. M. B., Paes, B., Lubian, J., Simões, R. F., et al. (2019). Reaction mechanisms of the 16O + 65Cu system. Physical Review C, ( 5), 054623/1- 054623/10. doi:10.1103/PhysRevC.99.054623
NLM
Crema E, Zagatto VAB, Shorto JMB, Paes B, Lubian J, Simões RF, Monteiro DS, Huiza JFP, Added N, Morais MC, Gomes PRS. Reaction mechanisms of the 16O + 65Cu system [Internet]. Physical Review C. 2019 ;( 5): 054623/1- 054623/10.[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://doi.org/10.1103/PhysRevC.99.054623
Vancouver
Crema E, Zagatto VAB, Shorto JMB, Paes B, Lubian J, Simões RF, Monteiro DS, Huiza JFP, Added N, Morais MC, Gomes PRS. Reaction mechanisms of the 16O + 65Cu system [Internet]. Physical Review C. 2019 ;( 5): 054623/1- 054623/10.[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://doi.org/10.1103/PhysRevC.99.054623
Artigo de periodico
Assessing the potentiality of the 250kV-SSAMS for stopping power measurements at low energies (2019)
Linares, Roberto; Fonseca, Leandro; Santos, Hellen Cristine dos ; Added, Nemitala; Seabra, C. C.; Xing, Yutao
Source: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, COLISÕES DE ÍONS PESADOS RELATIVÍSTICOS, ACELERADOR DE PARTÍCULAS, DISSIPADORES DE ENERGIA
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ABNT
LINARES, Roberto et al. Assessing the potentiality of the 250kV-SSAMS for stopping power measurements at low energies. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment, v. 945, n. 21, 2019Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.nima.2019.162610. Acesso em: 14 maio 2024.
APA
Linares, R., Fonseca, L., Santos, H. C. dos, Added, N., Seabra, C. C., & Xing, Y. (2019). Assessing the potentiality of the 250kV-SSAMS for stopping power measurements at low energies. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment, 945( 21). doi:10.1016/j.nima.2019.162610
NLM
Linares R, Fonseca L, Santos HC dos, Added N, Seabra CC, Xing Y. Assessing the potentiality of the 250kV-SSAMS for stopping power measurements at low energies [Internet]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment. 2019 ; 945( 21):[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nima.2019.162610
Vancouver
Linares R, Fonseca L, Santos HC dos, Added N, Seabra CC, Xing Y. Assessing the potentiality of the 250kV-SSAMS for stopping power measurements at low energies [Internet]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment. 2019 ; 945( 21):[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nima.2019.162610
Artigo de periodico
Reliability Calculation With Respect to Functional Failures Induced by Radiation in TMR Arm Cortex-M0 Soft-Core Embedded Into SRAM-Based FPGA (2019)
Benites, Luis A. C.; Benevenuti, Fabio ; Oliveira, Adria B de ; Kastensmidt, Fernanda L ; Added, Nemitala ; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Nilberto H. Medina, Nilberto Heder ; Guazzelli, Marcilei A
Source: IEEE Transactions on Nuclear Science. Unidades: IF, IB
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, ÍONS PESADOS
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ABNT
BENITES, Luis A. C. et al. Reliability Calculation With Respect to Functional Failures Induced by Radiation in TMR Arm Cortex-M0 Soft-Core Embedded Into SRAM-Based FPGA. IEEE Transactions on Nuclear Science, v. 66 , n. 7, p. 1433-1440, 2019Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2921796. Acesso em: 14 maio 2024.
APA
Benites, L. A. C., Benevenuti, F., Oliveira, A. B. de, Kastensmidt, F. L., Added, N., Aguiar, V. Â. P. de, et al. (2019). Reliability Calculation With Respect to Functional Failures Induced by Radiation in TMR Arm Cortex-M0 Soft-Core Embedded Into SRAM-Based FPGA. IEEE Transactions on Nuclear Science, 66 ( 7), 1433-1440. doi:10.1109/TNS.2019.2921796
NLM
Benites LAC, Benevenuti F, Oliveira AB de, Kastensmidt FL, Added N, Aguiar VÂP de, Nilberto H. Medina NH, Guazzelli MA. Reliability Calculation With Respect to Functional Failures Induced by Radiation in TMR Arm Cortex-M0 Soft-Core Embedded Into SRAM-Based FPGA [Internet]. IEEE Transactions on Nuclear Science. 2019 ; 66 ( 7): 1433-1440.[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2921796
Vancouver
Benites LAC, Benevenuti F, Oliveira AB de, Kastensmidt FL, Added N, Aguiar VÂP de, Nilberto H. Medina NH, Guazzelli MA. Reliability Calculation With Respect to Functional Failures Induced by Radiation in TMR Arm Cortex-M0 Soft-Core Embedded Into SRAM-Based FPGA [Internet]. IEEE Transactions on Nuclear Science. 2019 ; 66 ( 7): 1433-1440.[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2921796
Artigo de periodico
Dynamic heavy ions SEE testing of NanoXplore radiation hardened SRAM-based FPGA: Reliability-performance analysis (2019)
Oliveira, A; Added, Nemitala ; Medina, Nilberto Heder
Source: Microelectronics Reliability Volumes 100–101, September 2019, 113437. Unidade: IF
Assunto: ÍONS PESADOS
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ABNT
OLIVEIRA, A e ADDED, Nemitala e MEDINA, Nilberto Heder. Dynamic heavy ions SEE testing of NanoXplore radiation hardened SRAM-based FPGA: Reliability-performance analysis. Microelectronics Reliability Volumes 100–101, September 2019, 113437, v. 100–101, 2019Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.microrel.2019.113437. Acesso em: 14 maio 2024.
APA
Oliveira, A., Added, N., & Medina, N. H. (2019). Dynamic heavy ions SEE testing of NanoXplore radiation hardened SRAM-based FPGA: Reliability-performance analysis. Microelectronics Reliability Volumes 100–101, September 2019, 113437, 100–101. doi:10.1016/j.microrel.2019.113437
NLM
Oliveira A, Added N, Medina NH. Dynamic heavy ions SEE testing of NanoXplore radiation hardened SRAM-based FPGA: Reliability-performance analysis [Internet]. Microelectronics Reliability Volumes 100–101, September 2019, 113437. 2019 ; 100–101[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.microrel.2019.113437
Vancouver
Oliveira A, Added N, Medina NH. Dynamic heavy ions SEE testing of NanoXplore radiation hardened SRAM-based FPGA: Reliability-performance analysis [Internet]. Microelectronics Reliability Volumes 100–101, September 2019, 113437. 2019 ; 100–101[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.microrel.2019.113437
Artigo de periodico
Combined ionizing radiation & electromagnetic interference test procedure to achieve reliable integrated circuits (2019)
Goerl, Roger; Villa, Paulo; Vargas, Fabian L; Marcon, César A; Medina, Nilberto Heder ; Added, Nemitala ; Guazzelli, Marcilei A
Source: Microelectronics Reliability. Unidade: IF
Subjects: RADIAÇÃO IONIZANTE, INTERFERÊNCIA ELETROMAGNÉTICA, CIRCUITOS INTEGRADOS
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ABNT
GOERL, Roger et al. Combined ionizing radiation & electromagnetic interference test procedure to achieve reliable integrated circuits. Microelectronics Reliability, v. 100–101, p. 113341-7, 2019Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.microrel.2019.06.033. Acesso em: 14 maio 2024.
APA
Goerl, R., Villa, P., Vargas, F. L., Marcon, C. A., Medina, N. H., Added, N., & Guazzelli, M. A. (2019). Combined ionizing radiation & electromagnetic interference test procedure to achieve reliable integrated circuits. Microelectronics Reliability, 100–101, 113341-7. doi:10.1016/j.microrel.2019.06.033
NLM
Goerl R, Villa P, Vargas FL, Marcon CA, Medina NH, Added N, Guazzelli MA. Combined ionizing radiation & electromagnetic interference test procedure to achieve reliable integrated circuits [Internet]. Microelectronics Reliability. 2019 ; 100–101 113341-7.[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.microrel.2019.06.033
Vancouver
Goerl R, Villa P, Vargas FL, Marcon CA, Medina NH, Added N, Guazzelli MA. Combined ionizing radiation & electromagnetic interference test procedure to achieve reliable integrated circuits [Internet]. Microelectronics Reliability. 2019 ; 100–101 113341-7.[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.microrel.2019.06.033
Artigo de periodico
A low-cost portable system for elemental mapping by XRF aiming in situ analyses (2019)
Campos, P. H. O. V. ; Appoloni, Carlos Roberto; Rizzutto, Márcia de Almeida ; Leite, A. R.; Assis, R. F.; Santos, H. C.; Silva, T. F.; Rodrigues, C. L.; Tabacniks, Manfredo Harri ; Added, Nemitala
Source: Applied Radiation and Isotopes. Unidade: IF
Assunto: DETETORES
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ABNT
CAMPOS, P. H. O. V. et al. A low-cost portable system for elemental mapping by XRF aiming in situ analyses. Applied Radiation and Isotopes, v. 152, p. 78–85, 2019Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.apradiso.2019.06.018. Acesso em: 14 maio 2024.
APA
Campos, P. H. O. V., Appoloni, C. R., Rizzutto, M. de A., Leite, A. R., Assis, R. F., Santos, H. C., et al. (2019). A low-cost portable system for elemental mapping by XRF aiming in situ analyses. Applied Radiation and Isotopes, 152, 78–85. doi:10.1016/j.apradiso.2019.06.018
NLM
Campos PHOV, Appoloni CR, Rizzutto M de A, Leite AR, Assis RF, Santos HC, Silva TF, Rodrigues CL, Tabacniks MH, Added N. A low-cost portable system for elemental mapping by XRF aiming in situ analyses [Internet]. Applied Radiation and Isotopes. 2019 ; 152 78–85.[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.apradiso.2019.06.018
Vancouver
Campos PHOV, Appoloni CR, Rizzutto M de A, Leite AR, Assis RF, Santos HC, Silva TF, Rodrigues CL, Tabacniks MH, Added N. A low-cost portable system for elemental mapping by XRF aiming in situ analyses [Internet]. Applied Radiation and Isotopes. 2019 ; 152 78–85.[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.apradiso.2019.06.018
Trabalho de evento-resumo
Variability in the electrical parameters of power devices by total ionizing dose radiation effects (2018)
Barros, Felipe; Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da; Medina, Nilberto Heder; Added, Nemitala; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de
Source: Abstracts. Conference titles: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, RADIAÇÃO IONIZANTE
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
BARROS, Felipe et al. Variability in the electrical parameters of power devices by total ionizing dose radiation effects. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0023-3.pdf. Acesso em: 14 maio 2024.
APA
Barros, F., Silveira, M. A. G. da, Medina, N. H., Added, N., & Aguiar, V. Â. P. de. (2018). Variability in the electrical parameters of power devices by total ionizing dose radiation effects. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0023-3.pdf
NLM
Barros F, Silveira MAG da, Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de. Variability in the electrical parameters of power devices by total ionizing dose radiation effects [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0023-3.pdf
Vancouver
Barros F, Silveira MAG da, Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de. Variability in the electrical parameters of power devices by total ionizing dose radiation effects [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0023-3.pdf
Relatorio tecnico
MultiSIMNRA: a computational tool for self-consistent ion beam analysis using SIMNRA (2018)
Silva, Tiago Fiorini da; Moro, M. V.; Trindade, G. F.; Aguirre, F. R.; Mayer, M.; Added, Nemitala; Rizzutto, Marcia de Almeida; Tabacniks, Manfredo Harri
Unidade: IF
Subjects: RAIOS X, ESPECTROMETRIA, FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SILVA, Tiago Fiorini da et al. MultiSIMNRA: a computational tool for self-consistent ion beam analysis using SIMNRA. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/abs/1803.01946. Acesso em: 14 maio 2024. , 2018
APA
Silva, T. F. da, Moro, M. V., Trindade, G. F., Aguirre, F. R., Mayer, M., Added, N., et al. (2018). MultiSIMNRA: a computational tool for self-consistent ion beam analysis using SIMNRA. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/abs/1803.01946
NLM
Silva TF da, Moro MV, Trindade GF, Aguirre FR, Mayer M, Added N, Rizzutto M de A, Tabacniks MH. MultiSIMNRA: a computational tool for self-consistent ion beam analysis using SIMNRA [Internet]. 2018 ;[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://arxiv.org/abs/1803.01946
Vancouver
Silva TF da, Moro MV, Trindade GF, Aguirre FR, Mayer M, Added N, Rizzutto M de A, Tabacniks MH. MultiSIMNRA: a computational tool for self-consistent ion beam analysis using SIMNRA [Internet]. 2018 ;[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://arxiv.org/abs/1803.01946
Artigo de periodico
Reaction mechanisms of the 18 O + 63 Cu system at near-barrier energies (2018)
Crema, Edilson; Zagatto, Vinicius Antonio Bocaline; Shorto, Julian Marco Barbosa; Paes Ribeiro, Bárbara Esther da Fonseca; Lubián Ríos, Jesús; Simões, Rone Flávio; Monteiro, Davi da Silva; Huíza, Juan Felix Pari; Added, Nemitala; Morais, Maria Carmen; Gomes, Paulo Roberto Silveira
Source: Physical Review C. Unidade: IF
Assunto: REAÇÕES NUCLEARES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
CREMA, Edilson et al. Reaction mechanisms of the 18 O + 63 Cu system at near-barrier energies. Physical Review C, v. 98, n. 4, p. 044614/1-044614/10, 2018Tradução . . Disponível em: https://journals.aps.org/prc/abstract/10.1103/PhysRevC.98.044614. Acesso em: 14 maio 2024.
APA
Crema, E., Zagatto, V. A. B., Shorto, J. M. B., Paes Ribeiro, B. E. da F., Lubián Ríos, J., Simões, R. F., et al. (2018). Reaction mechanisms of the 18 O + 63 Cu system at near-barrier energies. Physical Review C, 98( 4), 044614/1-044614/10. Recuperado de https://journals.aps.org/prc/abstract/10.1103/PhysRevC.98.044614
NLM
Crema E, Zagatto VAB, Shorto JMB, Paes Ribeiro BE da F, Lubián Ríos J, Simões RF, Monteiro D da S, Huíza JFP, Added N, Morais MC, Gomes PRS. Reaction mechanisms of the 18 O + 63 Cu system at near-barrier energies [Internet]. Physical Review C. 2018 ; 98( 4): 044614/1-044614/10.[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://journals.aps.org/prc/abstract/10.1103/PhysRevC.98.044614
Vancouver
Crema E, Zagatto VAB, Shorto JMB, Paes Ribeiro BE da F, Lubián Ríos J, Simões RF, Monteiro D da S, Huíza JFP, Added N, Morais MC, Gomes PRS. Reaction mechanisms of the 18 O + 63 Cu system at near-barrier energies [Internet]. Physical Review C. 2018 ; 98( 4): 044614/1-044614/10.[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://journals.aps.org/prc/abstract/10.1103/PhysRevC.98.044614
Artigo de periodico
Reliability–Performance Analysis of Hardware and Software Co-Designs in SRAM-Based APSoCs (2018)
Tambara, Lucas Antunes; Kastensmidt, Fernanda Lima; Rech, Paolo; Lins, Filipe; Medina, Nilberto Heder; Added, Nemitala; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de; Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da
Source: IEEE Transactions on Nuclear Science. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, ESPECTROSCOPIA DE RAIO GAMA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
TAMBARA, Lucas Antunes et al. Reliability–Performance Analysis of Hardware and Software Co-Designs in SRAM-Based APSoCs. IEEE Transactions on Nuclear Science, v. 65, n. 8, p. 1935 - 1942, 2018Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2844250. Acesso em: 14 maio 2024.
APA
Tambara, L. A., Kastensmidt, F. L., Rech, P., Lins, F., Medina, N. H., Added, N., et al. (2018). Reliability–Performance Analysis of Hardware and Software Co-Designs in SRAM-Based APSoCs. IEEE Transactions on Nuclear Science, 65( 8), 1935 - 1942. doi:10.1109/TNS.2018.2844250
NLM
Tambara LA, Kastensmidt FL, Rech P, Lins F, Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de, Silveira MAG da. Reliability–Performance Analysis of Hardware and Software Co-Designs in SRAM-Based APSoCs [Internet]. IEEE Transactions on Nuclear Science. 2018 ; 65( 8): 1935 - 1942.[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2844250
Vancouver
Tambara LA, Kastensmidt FL, Rech P, Lins F, Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de, Silveira MAG da. Reliability–Performance Analysis of Hardware and Software Co-Designs in SRAM-Based APSoCs [Internet]. IEEE Transactions on Nuclear Science. 2018 ; 65( 8): 1935 - 1942.[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2844250
Trabalho de evento-resumo
Elastic scattering of radioactive neutron rich isotope 12B projectile on 58Ni target (2018)
Natividad Zevallos, Erick Oscar; Guimaraes, Valdir; Lichtenthäler, Rubens; Pires, Kelly Cristina Cezaretto; Santos, O C B; Selaboina, Appannababu; Crema, Edilson; Alcántara Núñez, Juan Antonio; Silva, Uiran Umbelino; Lara, A; Villamizar, Yoxara Sanchez; Added, Nemitala; Assunção, Marlete Pereira Meira de; Linares, Roberto; Lubián Ríos, Jesús; Cardozo, Érica Nunes; Monteiro, Davi da Silva; Morcelle, Viviane
Source: Abstracts. Conference titles: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, RADIAÇÃO IONIZANTE
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
NATIVIDAD ZEVALLOS, Erick Oscar et al. Elastic scattering of radioactive neutron rich isotope 12B projectile on 58Ni target. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0076-2.pdf. Acesso em: 14 maio 2024.
APA
Natividad Zevallos, E. O., Guimaraes, V., Lichtenthäler, R., Pires, K. C. C., Santos, O. C. B., Selaboina, A., et al. (2018). Elastic scattering of radioactive neutron rich isotope 12B projectile on 58Ni target. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0076-2.pdf
NLM
Natividad Zevallos EO, Guimaraes V, Lichtenthäler R, Pires KCC, Santos OCB, Selaboina A, Crema E, Alcántara Núñez JA, Silva UU, Lara A, Villamizar YS, Added N, Assunção MPM de, Linares R, Lubián Ríos J, Cardozo ÉN, Monteiro D da S, Morcelle V. Elastic scattering of radioactive neutron rich isotope 12B projectile on 58Ni target [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0076-2.pdf
Vancouver
Natividad Zevallos EO, Guimaraes V, Lichtenthäler R, Pires KCC, Santos OCB, Selaboina A, Crema E, Alcántara Núñez JA, Silva UU, Lara A, Villamizar YS, Added N, Assunção MPM de, Linares R, Lubián Ríos J, Cardozo ÉN, Monteiro D da S, Morcelle V. Elastic scattering of radioactive neutron rich isotope 12B projectile on 58Ni target [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0076-2.pdf
Trabalho de evento-resumo
Corrections in Single Event Effects cross section (2018)
Added, Nemitala; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de; Aguirre, Fernando Rodrigues; Medina, Nilberto Heder; Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da
Source: Abstracts. Conference titles: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, RADIAÇÃO IONIZANTE
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ADDED, Nemitala et al. Corrections in Single Event Effects cross section. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0068-1.pdf. Acesso em: 14 maio 2024.
APA
Added, N., Aguiar, V. Â. P. de, Aguirre, F. R., Medina, N. H., & Silveira, M. A. G. da. (2018). Corrections in Single Event Effects cross section. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0068-1.pdf
NLM
Added N, Aguiar VÂP de, Aguirre FR, Medina NH, Silveira MAG da. Corrections in Single Event Effects cross section [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0068-1.pdf
Vancouver
Added N, Aguiar VÂP de, Aguirre FR, Medina NH, Silveira MAG da. Corrections in Single Event Effects cross section [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0068-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Destructive single-event effects in semiconductor devices (2018)
Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento ; Medina, Nilberto Heder; Added, Nemitala; Menegasso, Ricardo; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de; Escudeiro, Rafael; Ribas, Roberto Vicençotto; Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da
Source: Abstracts. Conference titles: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, RADIAÇÃO IONIZANTE
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ABNT
ALBERTON, Saulo Gabriel Pereira Nascimento et al. Destructive single-event effects in semiconductor devices. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0031-1.pdf. Acesso em: 14 maio 2024.
APA
Alberton, S. G. P. N., Medina, N. H., Added, N., Menegasso, R., Macchione, E. L. A., Aguiar, V. Â. P. de, et al. (2018). Destructive single-event effects in semiconductor devices. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0031-1.pdf
NLM
Alberton SGPN, Medina NH, Added N, Menegasso R, Macchione ELA, Aguiar VÂP de, Escudeiro R, Ribas RV, Silveira MAG da. Destructive single-event effects in semiconductor devices [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0031-1.pdf
Vancouver
Alberton SGPN, Medina NH, Added N, Menegasso R, Macchione ELA, Aguiar VÂP de, Escudeiro R, Ribas RV, Silveira MAG da. Destructive single-event effects in semiconductor devices [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0031-1.pdf
Artigo de periodico
Lockstep dual-core ARM A9: implementation and resilience analysis under heavy ion-induced soft errors (2018)
Oliveira, Ádria Barros de; Rodrigues , Gennaro Severino; Kastensmidt, Fernanda Lima; Added, Nemitala; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de; Medina, Nilberto Heder; Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da
Source: IEEE Transaction on Nuclear Science. Unidade: IF
Assunto: ÍONS PESADOS
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ABNT
OLIVEIRA, Ádria Barros de et al. Lockstep dual-core ARM A9: implementation and resilience analysis under heavy ion-induced soft errors. IEEE Transaction on Nuclear Science, v. 65, n. 8, p. 1783-1790, 2018Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2852606. Acesso em: 14 maio 2024.
APA
Oliveira, Á. B. de, Rodrigues , G. S., Kastensmidt, F. L., Added, N., Macchione, E. L. A., Aguiar, V. Â. P. de, et al. (2018). Lockstep dual-core ARM A9: implementation and resilience analysis under heavy ion-induced soft errors. IEEE Transaction on Nuclear Science, 65( 8), 1783-1790. doi:10.1109/TNS.2018.2852606
NLM
Oliveira ÁB de, Rodrigues GS, Kastensmidt FL, Added N, Macchione ELA, Aguiar VÂP de, Medina NH, Silveira MAG da. Lockstep dual-core ARM A9: implementation and resilience analysis under heavy ion-induced soft errors [Internet]. IEEE Transaction on Nuclear Science. 2018 ; 65( 8): 1783-1790.[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2852606
Vancouver
Oliveira ÁB de, Rodrigues GS, Kastensmidt FL, Added N, Macchione ELA, Aguiar VÂP de, Medina NH, Silveira MAG da. Lockstep dual-core ARM A9: implementation and resilience analysis under heavy ion-induced soft errors [Internet]. IEEE Transaction on Nuclear Science. 2018 ; 65( 8): 1783-1790.[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2852606
Trabalho de evento-resumo
Study of radiation effects in embedded systems (2018)
Medina, Nilberto Heder; Added, Nemitala; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de; Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da
Source: Abstracts. Conference titles: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, REATORES NUCLEARES, ACELERADOR DE PARTÍCULAS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MEDINA, Nilberto Heder et al. Study of radiation effects in embedded systems. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0006-1.pdf. Acesso em: 14 maio 2024.
APA
Medina, N. H., Added, N., Aguiar, V. Â. P. de, Alberton, S. G. P. N., Macchione, E. L. A., & Silveira, M. A. G. da. (2018). Study of radiation effects in embedded systems. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0006-1.pdf
NLM
Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de, Alberton SGPN, Macchione ELA, Silveira MAG da. Study of radiation effects in embedded systems [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0006-1.pdf
Vancouver
Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de, Alberton SGPN, Macchione ELA, Silveira MAG da. Study of radiation effects in embedded systems [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0006-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Lifetime measurements in odd and odd-odd nuclei (2018)
Escudeiro, Rafael; Medina, Nilberto Heder; Oliveira, José Roberto Brandão de; Allegro, Paula Rangel Pestana; Alcantara-Nunez, Juan Antonio; Ribas, Roberto Vicençotto; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de; Added, Nemitala; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Scarduelli, Valdir Brunetti; Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento
Source: Abstracts. Conference titles: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, REAÇÕES NUCLEARES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ESCUDEIRO, Rafael et al. Lifetime measurements in odd and odd-odd nuclei. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0017-1.pdf. Acesso em: 14 maio 2024.
APA
Escudeiro, R., Medina, N. H., Oliveira, J. R. B. de, Allegro, P. R. P., Alcantara-Nunez, J. A., Ribas, R. V., et al. (2018). Lifetime measurements in odd and odd-odd nuclei. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0017-1.pdf
NLM
Escudeiro R, Medina NH, Oliveira JRB de, Allegro PRP, Alcantara-Nunez JA, Ribas RV, Aguiar VÂP de, Added N, Macchione ELA, Scarduelli VB, Alberton SGPN. Lifetime measurements in odd and odd-odd nuclei [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0017-1.pdf
Vancouver
Escudeiro R, Medina NH, Oliveira JRB de, Allegro PRP, Alcantara-Nunez JA, Ribas RV, Aguiar VÂP de, Added N, Macchione ELA, Scarduelli VB, Alberton SGPN. Lifetime measurements in odd and odd-odd nuclei [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0017-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Study of radiation effects in embedded systems (2018)
Medina, Nilberto Heder; Added, Nemitala; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de; Alberton, S. G.; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Silveira, M. A. G.
Source: Resumos. Conference titles: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Subjects: ACELERADOR DE PARTÍCULAS, ÍONS PESADOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MEDINA, Nilberto Heder et al. Study of radiation effects in embedded systems. 2018, Anais.. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=3. Acesso em: 14 maio 2024.
APA
Medina, N. H., Added, N., Aguiar, V. Â. P. de, Alberton, S. G., Macchione, E. L. A., & Silveira, M. A. G. (2018). Study of radiation effects in embedded systems. In Resumos. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=3
NLM
Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de, Alberton SG, Macchione ELA, Silveira MAG. Study of radiation effects in embedded systems [Internet]. Resumos. 2018 ;[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=3
Vancouver
Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de, Alberton SG, Macchione ELA, Silveira MAG. Study of radiation effects in embedded systems [Internet]. Resumos. 2018 ;[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=3
Trabalho de evento-resumo
Elastic scattering of radioactive neutron rich isotope 'ANTPOT. 12 'B' projectile on 'ANTPOT. 58 'NI' target (2018)
Zevallos, Erick Oscar Natividad; Lichtenthäler Filho, Rubens; Guimarães, Valdir; Pires, Kelly Cristina Cezaretto; Santos, Osvaldo Camargo Botelho dos; Selaboina, A.; Crema, Edilson; Alcantara, J.; Silva, Uiran Umbelino da; Lara, Alessandro Luiz; Villamizar, Yoxara Sanchez; Added, Nemitala; Linares, R.; Lubian, J.; Cardozo, E. N.; Monteiro, D.; Morcelle, V.
Source: Resumos. Conference titles: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Subjects: ACELERADOR DE PARTÍCULAS, FÍSICA NUCLEAR
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ZEVALLOS, Erick Oscar Natividad et al. Elastic scattering of radioactive neutron rich isotope 'ANTPOT. 12 'B' projectile on 'ANTPOT. 58 'NI' target. 2018, Anais.. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=22. Acesso em: 14 maio 2024.
APA
Zevallos, E. O. N., Lichtenthäler Filho, R., Guimarães, V., Pires, K. C. C., Santos, O. C. B. dos, Selaboina, A., et al. (2018). Elastic scattering of radioactive neutron rich isotope 'ANTPOT. 12 'B' projectile on 'ANTPOT. 58 'NI' target. In Resumos. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=22
NLM
Zevallos EON, Lichtenthäler Filho R, Guimarães V, Pires KCC, Santos OCB dos, Selaboina A, Crema E, Alcantara J, Silva UU da, Lara AL, Villamizar YS, Added N, Linares R, Lubian J, Cardozo EN, Monteiro D, Morcelle V. Elastic scattering of radioactive neutron rich isotope 'ANTPOT. 12 'B' projectile on 'ANTPOT. 58 'NI' target [Internet]. Resumos. 2018 ;[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=22
Vancouver
Zevallos EON, Lichtenthäler Filho R, Guimarães V, Pires KCC, Santos OCB dos, Selaboina A, Crema E, Alcantara J, Silva UU da, Lara AL, Villamizar YS, Added N, Linares R, Lubian J, Cardozo EN, Monteiro D, Morcelle V. Elastic scattering of radioactive neutron rich isotope 'ANTPOT. 12 'B' projectile on 'ANTPOT. 58 'NI' target [Internet]. Resumos. 2018 ;[citado 2024 maio 14 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=22

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